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AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱復(fù)納科學儀器(上海)有限公司
  • 品       牌Phenom 飛納電鏡
  • 型       號LiteScope
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2025/6/23 9:16:28
  • 訪問次數(shù)497
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復(fù)納科學儀器(上海)有限公司,2012 年創(chuàng)立于上海,為高校,企業(yè)和研究所提供臺式掃描電子顯微鏡,及與臺式掃描電鏡相關(guān)的技術(shù)支持和測試服務(wù)。復(fù)納科學儀器(上海)有限公司成立以來,一直專注顯微技術(shù),致力于實現(xiàn)掃描電鏡平民化。飛納電鏡——復(fù)納科學儀器(上海)有限公司為用戶提供從掃描電鏡基礎(chǔ)理論到 Level 5 應(yīng)用工程師的進階培訓,在上海、北京、廣州、成都設(shè)立了測試中心和售后服務(wù)中心,目前飛納電鏡在中國已經(jīng)擁有超過 2000 名用戶。


2017 年起,復(fù)納與荷蘭 Sioux 集團(ASML 光刻機研發(fā)供應(yīng)商)合作開發(fā)基于分析儀器的數(shù)字化應(yīng)用解決方案;2018 年,復(fù)納引入并組建以 VSParticle 納米粒子發(fā)生器、ForgeNano 原子層沉積系統(tǒng)(美國)為主要產(chǎn)品的納米部門。復(fù)納又陸續(xù)引進海外優(yōu)質(zhì)高科技設(shè)備:Technoorg Linda 離子研磨儀、DENSsolutions 原位透射樣品桿、NEOSCAN 臺式顯微 CT 到中國,旨在提高分析結(jié)果準確性,提升儀器使用效率,節(jié)省人力成本。





掃描電鏡,電子顯微鏡,細胞成像分析
產(chǎn)地 進口 產(chǎn)品新舊 全新
分辨率 0.2 nm x 0.2 nm x 0.04 nm
AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)SEM 與 AFM 是亞納米級樣品分析中應(yīng)用廣泛且互補的兩大技術(shù)。將 AFM 集成至 SEM 中可融合兩者的優(yōu)勢,實現(xiàn)超高效工作流程,
完成傳統(tǒng) AFM 和 SEM 難以或無法實現(xiàn)的極限性能和復(fù)雜樣品分析。
AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版) 產(chǎn)品信息

AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)    

產(chǎn)品簡介    

革命性的原子力顯微鏡(AFM),可實現(xiàn)與掃描電子顯微鏡(SEM)的無縫集成,為原位關(guān)聯(lián)顯微鏡開辟新可能。

憑借優(yōu)化設(shè)計,LiteScope AFM 兼容賽默飛世爾、TESCAN、蔡司、日立、JEOL 等主流品牌 SEM 系統(tǒng)及其配件,其他品牌電鏡亦可定制適配。

 

測量模式:

• 機械性能:AFM,能量耗散,相位成像

• 電性能:C-AFM、KPFM、EFM、STM

• 磁性能:MFM

• 電機械性:PFM

• 光譜學:F-z

 曲線,I-V 曲線

• 相關(guān)性分析:CPEM    


   

AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(shù)(通用版)    

實用特點    

  • 原位樣品表征

在 SEM 內(nèi)部的原位條件下確保樣品分析同時、同地、同條件下進行,并且在飛納電鏡內(nèi)部也能實現(xiàn)原子級分辨率    

  • 精確定位感興趣區(qū)域                

    SEM 與 AFM 原位聯(lián)用,保證了同一時間、同一地點和相同條件下的分析 使用 SEM 畫面,實時觀測探針與樣品的相對位置,為探針提供導航,精準定位            

  • 實現(xiàn)復(fù)雜的樣品分析需求

    提供電氣、磁學、光譜等多種測量模式,且能同一位置直接聯(lián)用 SEM 及 EDS 功能。同時獲取 AFM 與 SEM 數(shù)據(jù),并將其無縫關(guān)聯(lián)            


   


   

應(yīng)用案例

鋼和合金的復(fù)合分析    

利用原子力顯微鏡對雙相鋼進行復(fù)合分析,揭示了表面形貌(AFM)、鐵 氧體晶粒的磁疇結(jié)構(gòu)(MFM)、晶粒相比(SEM)和表面電位雜質(zhì)開爾文 探針力顯微分析法。 • 相關(guān)多模態(tài)分析揭示了復(fù)雜的性質(zhì) • 掃描電鏡精確定位 ROI,AFM 綜合分析    


   

電池的原位表征    

固態(tài)電池(SSB)比鋰離子電池顯示出更高的能量密度、更長的壽命和更 好的安全性。由鋰鎳錳鈷氧化物(NMC)顆粒組成的正極膠帶在手套箱中 經(jīng)過 200 個周期后被打開,原位切割并使用 AFM-in-SEM 測量。    

 樣品提供: Aleksandr Kondrakov, BELLA (DEU)    

• 在 CAM 橫截面處對局部電導率(C-AFM)進行表征    

• 無需空氣暴露即可原位制備敏感 CAM    

   


   

納米線的先進表征    

懸掛蜘蛛絲納米線因其機械性能而被研究,通過超精確定位AFM 尖在懸掛的納米線上。力-距離光譜學使得確定納米線的彈性和塑性 變形成為可能。    

樣品提供: Linnea Gustafsson, KTH (SWE)。    

• SEM: 精確定位 AFM 尖和納米線變形的實時觀察    

• 分析屬性如楊氏模量和抗拉強度    


   

   


   


   

選配件    

納米壓痕模塊    

納米壓痕模塊能夠在使用超高倍數(shù)掃描電子顯微鏡觀察樣品的同時進 行微機械實驗,并利用 LiteScope 以亞納米級分辨率對壓痕樣品進行 分析    

   

NenoCase 與數(shù)碼相機    

在環(huán)境條件或不同氣氛下將 LiteScope 作為獨立 AFM 使用,通過數(shù)碼 相機精確導航探針。    

   

樣品旋轉(zhuǎn)模塊    

適用于 FIB 后進行 AFM 分析。此外還允許同時安裝多個樣品實現(xiàn)在不 打開 SEM 腔室的情況下即可對多個樣品進行測試。    

   


   


   

關(guān)鍵詞:顯微鏡 電子顯微鏡
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