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更新時間:2025-07-17 14:20:55瀏覽次數(shù):642次
聯(lián)系我時,請告知來自 制藥網(wǎng)HAST半導(dǎo)體高加速立式偏壓應(yīng)力老化試驗箱
HAST半導(dǎo)體高加速應(yīng)力測試箱BHAST實驗箱
產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 產(chǎn)品新舊 | 全新 |
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自動化程度 | 其他 |
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HAST高加速老化壽命試驗箱
試驗箱適用于IC封裝,半導(dǎo)體,微電子芯片,磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗,使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。
HAST高加速老化壽命試驗箱
特點(diǎn)
·高機(jī)能:采用驅(qū)動計測, 測試時焊接工序大幅減少
·軟件設(shè)計簡單明了,直觀易操作
·遠(yuǎn)程監(jiān)控功能,可監(jiān)控試驗過程。
·便利性高:構(gòu)造裝著脫落式、 易進(jìn)行保養(yǎng)交換??赏瑫r試驗停 止等聯(lián)動裝置功能,系統(tǒng)構(gòu)成靈活。
·測試自檢功能:點(diǎn)檢、校正方便。
·設(shè)計精巧,不受場所限制,易移動。
·可靠性高:配有CF卡,以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。以UPS作為系統(tǒng)的支撐,確保試驗的安全繼續(xù)進(jìn)行。
HAST高加速老化壽命試驗箱
用于評估非氣密性封裝IC器件(固態(tài)設(shè)備)在高溫高濕條件下的運(yùn)行可靠性,對芯片、半導(dǎo)體等其他元器件進(jìn)行溫濕度(偏壓)高加速應(yīng)力壽命老化試驗。
應(yīng)用領(lǐng)域: PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規(guī)級芯片
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