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當(dāng)前位置:山東霍爾德電子科技有限公司>>物理實(shí)驗(yàn)儀器>>介電常數(shù)測(cè)試儀>> HD-JD1高頻介電常數(shù)測(cè)量?jī)x
產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) | 產(chǎn)品新舊 | 全新 |
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自動(dòng)化程度 | 全自動(dòng) |
在科技日新月異的今天,材料科學(xué)的每一次突破都推動(dòng)著人類(lèi)文明的邊界向前躍進(jìn)。而在這場(chǎng)探索未知的征途中,一個(gè)看似不起眼卻至關(guān)重要的工具——高頻介電常數(shù)測(cè)量?jī)x,正悄然扮演著解鎖材料“隱形密碼"的關(guān)鍵角色。它如同一雙銳利的眼睛,穿透物質(zhì)的表象,精準(zhǔn)捕捉那些決定材料性能與應(yīng)用的微妙電學(xué)特性。無(wú)論是半導(dǎo)體材料的研發(fā)、高分子復(fù)合材料的優(yōu)化,還是生物醫(yī)學(xué)工程中生物組織的電特性分析,高頻介電常數(shù)測(cè)量?jī)x都以它精確度,為科研人員提供了一條通往材料世界深層奧秘的捷徑。接下來(lái),就讓我們一同揭開(kāi)這款高科技儀器的神秘面紗,探索它如何在材料科學(xué)的浩瀚星空中,點(diǎn)亮一盞盞指引未來(lái)的明燈。
儀器簡(jiǎn)介
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物質(zhì)的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)。通過(guò)薄膜介質(zhì)損耗儀測(cè)定可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù)。
儀器用途
薄膜介質(zhì)損耗儀用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
參考標(biāo)準(zhǔn)
u GB/T 1409-2006 測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)存內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法;
u GB/T 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法;
u ASTM-D150-介電常數(shù)測(cè)試方法;
u GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的測(cè)試方法。
技術(shù)參數(shù)
1 | 信號(hào)源 | DDS數(shù)字合成 10KHZ-70MHz |
2 | 采樣精度 | 11BIT |
3 | 測(cè)量范圍 | 1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程 |
4 | 分辨率 | 0.1 |
5 | 測(cè)量工作誤差 | <5% |
6 | 電感測(cè)量范圍 | 分辨率0.1nH |
7 | 電感測(cè)量誤差 | <3% |
8 | 調(diào)諧電容 | 主電容30-540pF |
9 | 電容直接測(cè)量范圍 | 1pF~2.5uF |
10 | 調(diào)諧電容誤差 | ±1 pF或<1% 0.1pF |
11 | 諧振點(diǎn)搜索 | 自動(dòng)掃描 |
12 | 合格預(yù)置范圍 | 5-1000聲光提示 |
13 | LCD顯示參數(shù) | F,L,C,Q,Lt,Ct等 |
14 | 介質(zhì)損耗系數(shù)精度 | 萬(wàn)分之一 |
15 | 介電常數(shù)精度 | 千分之一 |
16 | 材料測(cè)試厚度 | 0.1mm-10mm |
17 | 技術(shù) | 儀器自動(dòng)扣除殘余電感和測(cè)試引線電感。大幅提高測(cè)量精度。大電容值直接測(cè)量顯示。數(shù)顯微測(cè)量裝置,直接讀值。 |
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